摘要: 基于密度函数理论和广义梯度近似原理, 计算了锑化镓 (GaSb) 体结构中的不同缺陷的形成能。计算结果表明, 无论是在Ga-rich晶体条件下还是Sb-rich晶体条件下, 主要的缺陷都是空位缺陷VGa和反应缺陷GaSb, 这解释了GaSb在不同生长条件下总是P型半导体的原因。
中图分类号:
周一帆, 侯 群, 彭 馨, 张 龙. 第一性计算锑化镓中的缺陷态[J]. 江汉大学学报(自然科学版), 2015, 43(3): 226-228.
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