基于改进Faster RCNN的印刷电路板瑕疵检测算法

陈学仕，苏通，漆为民

Printed Circuit Board Defect Detection Algorithm Based on Improved Faster RCNN

CHEN Xueshi，SU Tong，QI Weimin

江汉大学学报（自然科学版） . 2022, (1): 87 -96 . DOI: 10.16389/j.cnki.cn42-1737/n.2022.01.012